1、有限测试距离所引起的误差。

　　设待测的是平面天线，接收的来波沿其主波束的轴向。若测试距离大小，由待测天线之不同部位所接受的场不能相同，因此具有平方根律相位差。若待测天线恰位于源天线远场区的边界2D2/λ，其口径边缘与相位中心的场存在22.5度的相位差.若测试距离加倍，在相位差减半。

　　对于测量中等旁瓣电平的天线，距离2D2/λ通常已经足够，测出的增益约偏小0.06dB。测试距离缩短会使测量误差迅速增大，旁瓣会与主波束合并成肩台式，甚至合为一体。通常0.25dB的锥销使测出的增益降低约为0.1dB，并造成近旁瓣的些许误差。

　　2、反射引起误差。

　　直射波受从周围物体反射的干涉，在测试区域形成场的变化，由于该波波程差作为位置的函数而迅速变化，使起伏的长度属于波长的数量级。例如比直射波低 20dB的反射波，可引起-0.92～+0.83dB的功率误差，具体取决于两种之间的差异;相位测量的误差范围为±5.7°，但若反射波的场比直射波低 40dB，则侧出的幅度与相位分别仅有±0.09与±0.6°的误差。

　　反射在低旁瓣的测量中特别有害。一项很小的反射通过主瓣耦合到待测天线，可以完全掩盖住耦合到旁瓣的直射波。如果相耦合的直射和反射波强度相等，则测出的旁瓣电平会抬高6dB左右，或者在测得的波瓣图中成为零点。

　　3、其他原因引起的误差。

　　还有导致天线测量产生误差的因素：低频时与电抗近场的耦合可能比较显著;测量天线的对准误差;其他干扰信号;测试电缆所引起的误差等。