天线测量满足天线远场条件，即R≥2D²/λ。大口径、阵列天线测量时需要的远场空间很大，成本高。因此这样选择近场测试系统是符合测试要求。近场天线测试系统能够准确间接的测试待测天线的远场方向图，近场天线测试系统分为平面近场、柱面近场、球面近场测试，能够适用于任意增益和形状的天线类型，组合测试系统具备更宽的频带范围和更高的产品利用价值。