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天线测试服务

发布时间:2023-08-28点击量:123

微波暗室天线测试系统的介绍


     微波暗室天线测试系统可以满足0.4GHz~40 GHz频段内的天线测量,配置了矢量网络分析仪10MHz-43.5GHz, 系统可以完成平面近场、柱面近场、球面近场、远场天线测试功能以及相控阵天线校准功能,还能完成天线接收状态、发射状态测试。能够进行包括馈源、反射面、阵列天线、各种极化类型天线的方向图、增益、轴比、副瓣、波束宽度、G/T值等数据的分析,获得天线的各个切面方向图和空间立体方向图,可为各类天线产品研究、生产的测试需求提供测试服务


技术指标

微波暗室尺寸

≥13m×6.5m×4.2m

扫描架有效行程

≥4m×2.5m×0.25m×360°

转台结构

方位-平移-俯仰-极化

转台极化轴承重

≥25Kg

转台方位轴承重

≥300Kg

地面导轨行程

≥8m

分辨率

0.003mm

位置精度

X轴:0.05mm;Y 轴:0.05mm;Z 轴:0.03mm;P 轴:0.05°

重复定位精度

X轴:0.05mm;Y 轴:0.05mm;Z 轴:0.03mm;P 轴:0.05°

平面度(RMS)

≤0.03mm

直线度

≤0.03mm

轴、Y 轴、Z 轴任意面与坐标原面的垂直度

≤0.05°

系统动态范围

>60dB

测试频率

0.4GHz~40 GHz

测试功能

相控阵天线校准、平面近场、柱面近场、球面近场、远场天线测试功能。


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